DRK120 GB/T4957 软包装新材料厚度仪 铝膜测厚仪，设备是一款小型便携式仪器。性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，依据国家标准GB/T4957研发制造。应用于食品软包装、烟草包装行业中，测试方便迅速。

DRK203 GB/T 6672 台式厚度仪 塑料薄膜薄片测厚仪，设备依据GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777等标准研发制造，适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

DRK203 ISO4593-1993 机械扫描法薄膜薄片厚度仪，设备结构科学合理，使用安全可靠，依据GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》等标准研发制造。

DRK203 GB/T6672-2001 机械法塑料薄膜薄片测厚仪，设备依据GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》标准研发制造。该设备外型美观，结构紧凑合理，操作省力，使用方便。

DRK203C GB/T 6672 台式高精度塑料薄膜薄片测厚仪，设备依据GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777等标准研发制造，适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

DRK120 GB/T4957 食品软包装行业铝膜厚度仪，设备依据GB/T4957标准研发制造，应用于食品软包装、烟草包装行业中，测试方便迅速，是一种小型便携式仪器。性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用。

DRK203 GB/T 6672 台式高精度薄膜测厚仪，设备GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777等标准研发制造，设备特点：接触式测量、测头自动升降、自动测量模式、 数据实时显示、自动统计、打印、显示最大值、最小值、平均值和统计偏差、标准接触面积、标定压强、标准量块标定测量参数。

DRK203 GB/T6672-2001 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪，设备参照执行国家标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》。

DRK203 台式高精度薄膜测厚仪 山东厂家，设备依据GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777等标准研发制造，适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

DRK203 机械法指针款薄膜测厚仪 山东厂家，本设备是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不是适用于压花的薄膜和薄片，产品结构科学合理，使用安全可靠，主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试，还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试。

DRK203 数字式薄膜测厚仪 山东厂家，设备参照执行国家标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》研发制造，主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试，还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试，设备外型美观，结构紧凑合理，操作省力，使用方便。

DRK120 食品软包装铝膜厚度仪 烟草包装铝膜测厚仪，是一款小型便携式测厚仪器。该仪器性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，适用国家标准GB/T4957。

DRK203 台式高精度薄膜测厚仪 接触式薄膜厚度仪，（GB/T 6672）适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

DRK203 塑料软包装材料厚度测定仪 测厚仪，是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不是适用于压花的薄膜和薄片。仪器结构科学合理，使用安全可靠。

DRK203 塑料软包装材料测厚仪 薄膜厚度仪，是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不是适用于压花的薄膜和薄片。该仪器外型美观，结构紧凑合理，操作省力，使用方便。

DRK120 小型便携式铝膜测厚仪，是一种小型便携式仪器。性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，符合国家标准GB/T4957。

DRK203 高精度台式薄膜测厚仪，适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

DRK203 机械测量法塑料薄片测厚仪，是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不是适用于压花的薄膜和薄片。

DRK203 机械测量法塑料薄膜测厚仪，是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不是适用于压花的薄膜和薄片。

DRK203 台式高精薄膜测厚仪 箔片硅片厚度仪，仪器依据如下标准制作：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777。